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M-3手持式四探针测试仪

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产品名称: M-3手持式四探针测试仪
产品型号:
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简单介绍

M-3手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试材料电阻率/方块电阻的多用途、高性价比测量仪器。广泛适用于半导体材料厂、科研单位、高等院校四探针法对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。

M-3手持式四探针测试仪

   的详细介绍

操作视频

产品型号

M-3手持式四探针电阻率测试仪

主要特点

1、测试仪由M-3型主机和四探针探头两部分组成

2、手持式设计,带完善厚度、形状修正功能,测试精准

3、宽量程:超宽五个档位,相当于中档台式机的量程

4、操作简便、性能稳定:轻触数字化键盘实现参数设定、功能转换,LED数字表头显示

5、多款探头可选,适用于各种不同材料的导电性能测试

技术参数

1、工作电源

208-240V,50/60Hz;电池供电:DC3.7V

2、测量范围、分辨率

  电阻:0.010~50.00kΩ 分辨率:0.001~10 Ω

  电阻率:0.010~20.00kΩ-cm 分辨率:0.001~10 Ω-cm

  方块电阻:0.050~100.00kΩ/m2  分辨率0.001~10Ω/m2

3、基本误差:±1%FSB±2LSB

4、外形尺寸:210mm L × 100mm W × 36mm H

5、净重:0.3kg

可选配件

1探头

根据不同材料特性需要,探头可有多款选配

碳化钨探针探头(固体材料):测试硅等半导体、金属、导电塑料类等硬质材料(详见图1)球形或平头镀金铜合金探针探头(薄膜):可测金属箔、碳纸等导电薄膜,也可测陶瓷、玻璃或PE膜等基底上导电涂层膜,如金属镀膜、喷涂膜、ITO膜、电容卷积膜等材料的薄膜涂层(详见图2)探头头部安装有平衡基座避免人手操作的误差(详见图3)

 

图1

图2

图3

2、可选配快速恒压四探针测试台,对测试压力进行调节保证恒压测试,提高测试的**度

 
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